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| 과제번호 | SM124586 |
|---|---|
| 과제명 | 고밀도 PCB 절연층 투과식 두께측정 프로브 개발 |
| 사업명 | 창업성장기술개발사업 |
| 공고명 | 2011년도 중소기업 창업성장기술개발사업 시행계획공고 |
| 세부공고명 | 성장과제하반기 |
| 주관기관명 | 주식회사나노시스템 |
| 관리기관명 | 대전세종지방중소벤처기업청 |
| 전문기관명 | 중소기업기술정보진흥원 |
| 정부출연금 | 131,387,000 |
| 과제상태 | 성공 |
| 산업기술분류 | 전기ㆍ전자 >> 반도체장비 >> 측정/검사 장비 |
30141 세종특별자치시 집현중앙로 79, 중소기업기술정보진흥원(TIPA)
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