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| 과제번호 | S2430641 |
|---|---|
| 과제명 | 반도체Wafer 불량분석용 Emission Micro Scope를 위한 Direct Docking Prober 개발 |
| 사업명 | 구매조건부기술개발사업(해외수요처) |
| 공고명 | 2016년도 구매조건부신제품개발사업 해외수요처 기업제안과제 수시접수 수정 공고 |
| 세부공고명 | 2016년도 구매조건부신제품개발사업 해외수요처 수시모집 기업제안과제 시행계획 공고 |
| 주관기관명 | 모두테크놀로지 |
| 관리기관명 | 경기지방중소벤처기업청 |
| 전문기관명 | 중소기업기술정보진흥원 |
| 정부출연금 | 162,500,000 |
| 과제상태 | 성공 |
| 산업기술분류 | 전기ㆍ전자 >> 반도체장비 >> 측정/검사 장비 |
30141 세종특별자치시 집현중앙로 79, 중소기업기술정보진흥원(TIPA)
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