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| 과제번호 | S2563476 |
|---|---|
| 과제명 | 고화소 OLED 패널의 TEG와 ARRAY 측정을 위한 융합형 다채널 고속 검사장비 개발 |
| 사업명 | WC300 R&D |
| 공고명 | (제한공모) 2017년 3차 World Class 300 프로젝트 R&D 지원신청 안내 |
| 세부공고명 | (제한공모) 2017년 3차 World Class 300 프로젝트 R&D 지원신청 안내 |
| 주관기관명 | (주)탑엔지니어링 |
| 관리기관명 | 한국산업기술진흥원 |
| 전문기관명 | 한국산업기술진흥원 |
| 정부출연금 | 3,356,700,000 |
| 과제상태 | 과제진행중 |
| 산업기술분류 | 전기ㆍ전자 >> 디스플레이 >> 디스플레이 측정 및 검사장비 |
30141 세종특별자치시 집현중앙로 79, 중소기업기술정보진흥원(TIPA)
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